一.注意事项

1. 测试硬盘前，先要检查硬盘外观有无物理损伤,注意看细节，电路板、电子元器件、盘体表面，不得有明显的损毁、裂痕、摔痕；如有损伤，请立即跟派货人员和相关负责人在收货现场确认原因

2. 测试机器使用的电源，应保证功率足够，数据线及转接头要确认良好，另要注意测试机的CPU温度要保持正常，测试硬盘时要注意控制硬盘温度，要有降温的措施，否则长时间测试硬盘温度升高后会导致测试结果不正确；

3. 硬盘在通电高速运转的情况下，抗冲击能力会变的很弱，基本30g的冲击力就能导致盘体出现物理损伤；甚至导致硬盘电机被毁；所以测试时请注意硬盘的固定，避免出现磕碰；

4.如果出现连续发现2块以上的磁盘不能被识别的情况请立刻停止测试、更换设备或联系供应商；很可能是由于您的测试电源或数据线等设备有问题；这样的情况下如果持续测试有可能导致大量毁坏磁盘；

5. 另请注意一种情况；当怀疑转接头有问题时，请将转接头从数据线上拔下，而不是简单的将连在线上的转接头从硬盘上拔下；

*此方法同时适用于SAS或SISC硬盘；

二．环境要求

1.硬件要求:一块硬盘以上，数据线一条，保证硬盘散热

2.软件要求：系统WINDOWS2003/XP 硬盘测试软件，EZ-SISC5.0或6.0，HDspeed，HDtach, HDDScan_v28,

详情地址下载：http://bbs.txwb.com/read.php?tid=264849

三．测试流程

硬盘通电时间测试

1.安装磁盘哨兵(HardDiskSentinel-h)

2.点击磁盘，选择S.M.A.R.T 硬盘.（自监测、分析、报告技术），图下测试当前硬盘通电时间为18分钟

硬盘成长坏道测试

1.安装EZSCSI软件，重启，该软件只支持Winxp下测试硬盘

2.开始——Adaptec EZ-SCSI 5.0程序——打开SCSI Explorer

3.interrogator选项卡——单击选中需要测试的硬盘——Defect list选项卡——单选Grown Defect List—

4．其中ID#0：FUJITSU（表示第一组通道的第一个盘）Grown Defect List 就是查看成长坏道，如果没有成长的话，里面显示信息就是No Grown Defects

下图表示硬盘有一个成长坏道

*如果发现某片硬盘有读或写缓存没有打开的情况，请打开，否则严重影响速度，如果无法打开的，可要求供应商给予更换；

 

硬盘寻道测试

1.使用HDTACH 测试盘的寻道时间

2.下图为10K 富士通MAT 147G SCSI的标准测试图，大家注意图上显示随机存取速度为7.7毫秒

 

 

 3.下图为15K 富士通 MAX36G SCSI的标准测试图，大家注意图上显示随机存取速度为5.6毫秒;

 

*在无盘服务器的应用中，寻道速度快的意义要远大于持续读取速度，所以为了追求更好的效果我们建议回写盘采用15K的SCSI或SAS盘；SATA硬盘寻道将达到14毫秒以上所以不建议大家使用SATA盘做回写盘的道理也在于此；

硬盘速度测试

1.使用Hdspeed测试磁盘读取速度

 

1

2

3

4

下一页

本文来源：网络 作者：未知